能量色散型微區X射線熒光光譜儀 μEDX系列

品牌：	267
單價：	面議
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發貨期限：	自買家付款之日起天內發貨
所在地：	北京
有效期至：	長期有效
最后更新：	1970-01-01 08:00
瀏覽次數：	251

公司基本資料信息

詳細說明

技術參數

●測定原理 X射線熒光分析法
●測定方法能量色散型
●測定對象固體、液體、粉體
●樣品形狀最大150mm× 150mm× 40mmH
●X射線管 Rh靶
●檢測器 Si（Li）半導體檢測器（μEDX-1200/1300型）
Si漂移半導體檢測器（μEDX-1400型）
●測定范圍 13Al ~ 92U （μEDX-1200型）
11Na ~ 92U （μEDX-1300型）
13AL ~ 92U （μEDX-1400型）

主要特點
μEDX系列X射線熒光光譜儀可以高靈敏度地分析很小的樣品。對于需要高分辨率同時高X射線強度才能進行測定的電子部件、電路板以及材料中的異物等微小局部的測定，本裝置可進行高靈敏度、高分辨率，分析直徑最小至50μm的分析。

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